Патентная школа "Сколково"

Дата создания страницы: 2017-09-25 11:06:17
Патентная школа "Сколково"

Научный сотрудник направления микробиологических исследований Хачатур Александрович Балуян принял участие в международной конференции по вопросам интеллектуальной собственности и патентования - «Патентная школа», прошедшей 13–15 сентября в «Сколково».

Насыщенная трехдневная программа патентной школы гармонично сочетала лекции о особенностях и различиях интеллектуальной собственности и патентования, получении и управлении патентами за рубежом, возможностях патентных исследований при оценке компаний и целесообразности научных изысканий, круглые столы и дискуссии по актуальным проблемам.

Открыл конференцию руководитель федеральной службы по интеллектуальной собственности Григорий Ивлиев, отметив низкую патентную активность НИИ и ВУЗов в целом стране и страны в мировом масштабе, а также потребность в использовании патентных ландшафтов (технологической разведки) с целью минимизации рисков.

Большое внимание докладчики уделили патентным поискам и обзору баз данных для анализа (информационно-поисковые системы Роспатент и ЕАПО, база данных ВОИС, PatStat, Orbit), а так же распоряжению правами и защите интеллектуальной собственности.

Актуальную проблему патентного анализа затронула Екатерина Стрельцова из института статистических исследований и экономики знаний национального исследовательского университета Высшей школы экономики, подробно осветив алгоритм проведения патентного анализа и систему интеллектуального анализа больших данных iFORA.

Сычев Алексей, заведующий отделом судебного представительства ФИПС выступил с докладом «Актуальные тенденции споров о правах на интеллектуальную собственность» осветив особенности защиты товарного знака в России.

По итогам «Патентной школы» можно утверждать, что патентование необходимо с целью защиты прав, получения финансирования и увеличения стоимости компании.

Активно участвующим в обсуждении основных вопросов слушателям были вручены именные сертификаты.

 
Подробная информация здесь.
 

Написать отзыв

Ваше Имя:


Ваш отзыв: Внимание: HTML не поддерживается! Используйте обычный текст.

Оценка: Плохо           Хорошо

Введите код, указанный на картинке:



Яндекс.Метрика
Работает на ocStore
Научно-исследовательский институт хлебопекарной промышленности | ФГАНУ НИИХП © 2017